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更新時(shí)間：2025-04-24
多光譜多光軸測(cè)試設(shè)備用于校正、測(cè)量激光光軸、紅外光軸、可見(jiàn)光軸之間的平行性，設(shè)備能在一定范圍內(nèi)適應(yīng)大跨度光軸和光軸任意位置分布，配備部分附件和軟件，可以檢查與測(cè)量可見(jiàn)光學(xué)系統(tǒng)和紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量。
設(shè)備包括多光譜多光軸測(cè)試系統(tǒng)、激光光電探測(cè)系統(tǒng)線性性能檢測(cè)裝置、激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)、紅外光光學(xué)及成像測(cè)試系統(tǒng)、電視紅外圖像跟蹤性能檢測(cè)系統(tǒng)、大口徑平行光管測(cè)試儀、野外便攜式多光軸平行性校正儀、便攜式整機(jī)光學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)、告警能力/探測(cè)概率測(cè)試系統(tǒng)、紅外導(dǎo)引、控制測(cè)試系統(tǒng)、紅外靈敏度測(cè)試系統(tǒng)、多譜段激光光斑空間分布外場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)、全自動(dòng)定焦系統(tǒng)、大口徑平行光管。
主要包括靶場(chǎng)、紅外導(dǎo)引頭、光學(xué)校正等設(shè)備，可根據(jù)客戶的技術(shù)指標(biāo)評(píng)估進(jìn)行定制。
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